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sentech SE850DUV DUV/VIS/NIR光谱椭偏仪

sentech SE850DUV DUV/VIS/NIR光谱椭偏仪 产品名称: DUV/VIS/NIR光谱椭偏仪
产品型号: SE850DUV
厂商名称: SENTECH
服务类型: 购买
市场参考价: 联系业务员
产品简述: 深紫外主要用于研究超薄膜、表面粗糙度,并可研究温度、应力、张力、掺杂、组份、晶态等对材料禁带宽度的影响;深紫外也可研究AlGaN, AlN等宽禁带材料,测量膜厚0-10nm。可见光可测量折射率梯度。近红外使用FTIR,测量时间短(全光谱、多角度测量可在10分钟内完成),具有自?

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