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sentech SE805 NIR光谱椭偏仪

sentech SE805 NIR光谱椭偏仪 产品名称: NIR光谱椭偏仪
产品型号: SE805
厂商名称: SENTECH
服务类型: 购买
市场参考价: 联系业务员
产品简述: 具有高分辨率、高信噪比、自动波长对准的特性。可测量较厚的薄膜,自由载流子浓度电导率。ITO,TCO薄膜的自由载流子吸收。尤其适用于III/V半导体InP, InGaP的测量。可测量膜厚范围5-200微米。选件请参考SE800选件。
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光谱范围: 700 nm - 1700 nm

  SE 805是近红外光谱椭偏仪,是在近红外波段基于快速干涉调制探测的高性能光谱椭偏仪。SE 805使用步进扫描分析器方式,调制光的强度在固定的分析器位置被测量,使用宽带固体探测器。

主要应用
  ?测量单层膜或多层膜的厚度和折射率
  ?在近红外波段测量材料的光学性质
  ?测量厚度梯度
  ?确定材料成分
  ?分析较厚的膜,厚度范围可到30微米
  ?适合测量In搀杂的半导体材料 (InP, InGaAs, InGaAlAs, InN)

选项
  ?近红外光谱扩展选项,700 - 2300 nm
  ?计算机控制高性能消色差补偿器
  ?计算机控制起偏器
  ?计算机控制自动角度计, 40º-90º, 精度0.01º
  ?手动x-y载物台,150 mm行程
  ?电机驱动x-y载物台,行程50 mm - 200 mm, SENTECH地貌图扫描软件
  ?透射测量样品夹具
  ?摄象头选项,用于样品对准和表面检测
  ?液体膜测量单元
  ?反射式膜厚仪FTPadvanced, 光斑直径80微米
  ?微细光斑选项
  ?自动对焦选项,结合地貌图扫描选项
  ?SENTECH标准样片
  ?附加许可,使 SpectrRay II软件可以用于多台电脑

光谱椭偏仪软件SpectraRay II
  基于windows系统的 SpectraRay II 操作软件包括一个全面的的建模、模拟和拟合软件包,操作向导,自动输出结果,单键操作,使得软件界面友好并且椭偏仪操作简易。

  通过运行操作向导,能够使操作变的简单。操作向导能够指导用户完成标准的测量程序:测量数据,拟合,输出结果。操作向导能够将复杂的测量和拟合的设置变的简易。
  SpectraRay II 软件也能够进行反射测量和透射测量。

  报告向导能够自动完成将测量结果输出到一个web文件。

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